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3535LCR测试仪
产地:日本

厂商:日本日置

市场报价:
3535LCR测试仪 功能特点/性能参数
  

高速LCR仪,采样率可高至120MHz

  • 100kHz~120MHz的宽频带
  • 高速LCR测试(6ms/采样)
  • 拆卸式前置放大器可选择
  • 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
基本参数

测量参数 |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
基本精度 Z:± 0.5%rdg. θ:± 0.3°
输出阻抗 50Ω ± 10Ω(100kHz时)
监视 电压 0.000V~1.000V
电流 0.000mA~20.0mA
限制 电压(设置为CC) 0.005V~1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA~20.00mA
平均 关,2,4,8,16,32,64
触发 内置触发器,外置触发器
触发延时 0.01s~9.99s;0.01s分辨率
比较 可得到两组测量参数:百分比,△%,或绝对值设置(△%即显示测量值与标准值的偏差)
控制盘存储和调用 最多30组
屏幕显示 测量值和比较器的判断结果
显示线数 可设置成3,4,或5;根据参数可能有所不同
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
操作环境 10~40°C,最大80%rh,无凝结
仓储环境 -10~55°C,最大80%rh,无凝结
供电电源 交流100V~240V,50/60Hz,约50VA
体积及重量 约360宽×130高×360厚(mm);8.3kg


测量参数 |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
基本精度 Z:± 0.5%rdg. θ:± 0.3°
输出阻抗 50Ω ± 10Ω(100kHz时)
监视 电压 0.000V~1.000V
电流 0.000mA~20.0mA
限制 电压(设置为CC) 0.005V~1.000V
电流(设置为V或CV) 0.20mA~20.00mA
平均 关,2,4,8,16,32,64
触发 内置触发器,外置触发器
触发延时 0.01s~9.99s;0.01s分辨率
比较 可得到两组测量参数:百分比,△%,或绝对值设置(△%即显示测量值与标准值的偏差)
控制盘存储和调用 最多30组
屏幕显示 测量值和比较器的判断结果
显示线数 可设置成3,4,或5;根据参数可能有所不同
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
操作环境 10~40°C,最大80%rh,无凝结
仓储环境 -10~55°C,最大80%rh,无凝结
供电电源 交流100V~240V,50/60Hz,约50VA
体积及重量 约360宽×130高×360厚(mm);8.3kg

前置放大器决定的测量量程

前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03
Z和R 100mΩ~1kΩ 500Ω~10kΩ 5kΩ~100kΩ
C 1.33pF~15.9μF 0.133pF~3.18nF 0.1pF~318pF
L 1nH~1.59mH 663nH~15.9mH 6.63μH~159mH
θ -180.00°~180.00°

测量频率


测量电平

量程 100kHz~120MHz
分辨率设置 4位(使用前控制板设置)
100.0kHz~1.000MHz 100Hz幅度
1.000MHz~10.00MHz 1kHz幅度
10.00MHz~100.0MHz 10kHz幅度
100.0MHz~120.0MHz 100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时,分辨率为1Hz。
精度 最大 ± 0.005%,相对于设置值
开路接口电压(V)
和恒压(CV)模式
5mV~1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV~500mV,最大10mA(10.01MHz以上)
分辨率 1mV幅度
精度 ±(5%+5mV)×(2+log f)(f为MHz数)
恒流(CC)模式 200μA~20mA,最大1V(10.00MHz以下)
200μA~10mA,最大0.5V(10.01MHz以上)
分辨率 10A幅度
精度 ±(10%+50μA)× (2+log f)(f为MHz数)


前置放大器决定的测量量程

前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03
Z和R 100mΩ~1kΩ 500Ω~10kΩ 5kΩ~100kΩ
C 1.33pF~15.9μF 0.133pF~3.18nF 0.1pF~318pF
L 1nH~1.59mH 663nH~15.9mH 6.63μH~159mH
θ -180.00°~180.00°

测量频率

量程 100kHz~120MHz
分辨率设置 4位(使用前控制板设置)
100.0kHz~1.000MHz 100Hz幅度
1.000MHz~10.00MHz 1kHz幅度
10.00MHz~100.0MHz 10kHz幅度
100.0MHz~120.0MHz 100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时,分辨率为1Hz。
精度 最大 ± 0.005%,相对于设置值

测量电平

开路接口电压(V)
和恒压(CV)模式
5mV~1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV~500mV,最大10mA(10.01MHz以上)
分辨率 1mV幅度
精度 ±(5%+5mV)×(2+log f)(f为MHz数)
恒流(CC)模式 200μA~20mA,最大1V(10.00MHz以下)
200μA~10mA,最大0.5V(10.01MHz以上)
分辨率 10A幅度
精度 ±(10%+50μA)× (2+log f)(f为MHz数)


前至放大放大单元 9700-10
测量范围: 100mΩ~300kΩ

SMD测试冶具 9677工作频率: DC~120MHz;测量对象尺寸: 3.5±0.5mm, 与3535组合使用时,无CE标记

SMD测试冶具 9699 工作频率: DC~120MHz;测量对象尺寸: 宽1.0~4.0mm, 高1.5mm以下

连接电缆 9678  电缆长: 2m

GP-IB连接电缆 9151-02 线长: 2 m

GP-IB连接电缆 9151-04  线长: 4 m
分立器件测试仪分类
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